A.隔聲層與缺陷延伸方向平行
B.隔聲層與缺陷延伸方向垂直
C.垂直與缺陷延伸方向移動(dòng)
D.平行與缺陷延伸方向移動(dòng)
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A.底面回波幅度降低量≥12dB 者
B.缺陷回波幅度達(dá)到距離-波幅曲線者
C.不論缺陷回波高低，認(rèn)為是線狀或片狀缺陷者
D.底面回波幅度增加量≥12dB 者
A.開箱點(diǎn)數(shù)
B.技術(shù)性能
C.質(zhì)量保證能力
D.技術(shù)資料歸檔
A.著色滲透劑是無色的
B.與顯像劑發(fā)生反應(yīng)后產(chǎn)生顏色
C.使用的顯像劑粉末呈堿性
D.使用的顯像劑粉末呈酸性
A.暗室白光照度應(yīng)小于20lx
B.黑光照度不小于1000μW/cm2
C.黑光照度不小于20μW/cm2
D.隨時(shí)對(duì)缺陷做出標(biāo)記和記錄
A.斷續(xù)條狀缺陷
B.密集小裂紋
C.密集夾渣
D.密集氣孔
最新試題
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是（）。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用（）填補(bǔ)工件的較薄部分，使透照厚度差減小的方法。
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有（）。
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象，發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)（）。
單晶體金屬特點(diǎn)有（）。
對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有（）。
滲透劑檢測(cè)壓力噴灌的存放應(yīng)避免（）。
無損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括（）驗(yàn)收。
利用鋼材磁特性曲線制定周向磁化規(guī)范時(shí)，連續(xù)法周向磁場(chǎng)的選擇一般應(yīng)在（）之間為宜。
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?，在整張底片范圍出現(xiàn)，其產(chǎn)生的原因是（）。