A.化學(xué)干擾
B.電離干擾
C.霧化,去溶干擾
D.以上都是
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A.火焰的溫度逐漸降低
B.火焰尖端處的溫度最低
C.火焰根部的溫度最高
D.以上都是
A.譜線強(qiáng)度也會(huì)隨之降低
B.譜線強(qiáng)度隨之增強(qiáng)
C.光譜的背景降低
D.信背比增加
A.越短
B.越長(zhǎng)
C.不確定
D.一定越短
A.激發(fā)光源
B.原子化器
C.樣品池
D.檢測(cè)和數(shù)據(jù)處理
A.熱助共振熒光
B.熱助直躍線熒光
C.熱助階躍線熒光
D.飽和熒光
最新試題
AAS的火焰原子化器具有穩(wěn)定性高、使用方便等優(yōu)點(diǎn)。但火焰原子化器的霧化效率較低,原子化效率也低;且基態(tài)原子蒸氣在火焰吸收區(qū)停留時(shí)間短,原子蒸氣在火焰中被大量氣體稀釋?zhuān)沟闷潇`敏度不高。
消除AAS測(cè)試中的電離干擾可采用適當(dāng)控制火焰溫度,加入消電離劑(主要為堿金屬元素)等來(lái)抑制待測(cè)原子的電離。
石墨管式原子化器的檢測(cè)限比火焰原子化器高,注入的試樣幾乎可全部原子化,基態(tài)原子在光路中停留的時(shí)間短。
在AAS測(cè)試中,石墨爐原子化時(shí),凈化溫度應(yīng)高于原子化溫度,凈化的時(shí)間為3~5s,目的是去除試樣殘留物,消除記憶效應(yīng)。
采用外標(biāo)法檢測(cè)樣品時(shí),對(duì)進(jìn)樣量的準(zhǔn)確性沒(méi)有要求,不適用于大批量試樣的快速分析。
在AAS測(cè)試中,石墨爐原子化時(shí),灰化的的目的是去除基體,尤其是有機(jī)質(zhì)的去除。在不損失待測(cè)原子時(shí),使用盡可能高的溫度和長(zhǎng)的時(shí)間。
在AAS測(cè)試中的物理干擾可通過(guò)配制與試樣具有相似組成的標(biāo)準(zhǔn)溶液或標(biāo)準(zhǔn)加入法來(lái)克服。
氣相色譜法中氣固色譜是遵循分配原理,而氣液色譜是遵循吸附原理。
離子選擇性電極的校準(zhǔn)曲線的直線部分所對(duì)應(yīng)的離子活度范圍稱(chēng)為離子選擇性電極的線性范圍。
程序升溫是一種氣相色譜分析技術(shù),用于改善組分的分配比、傳質(zhì)速率、分離度、峰型和提高分析速度,以達(dá)到用最短時(shí)間獲得最佳分離的目的。