tanδ測(cè)試時(shí)，隨著試驗(yàn)電壓U的變化，tanδ值呈開(kāi)口環(huán)曲線，則試品屬于（）。

當(dāng)直流電壓加到被試品上時(shí)，絕緣介質(zhì)內(nèi)部或表面的帶電粒子作定向移動(dòng)形成的電流稱為（）。

對(duì)于充油設(shè)備，只有在（）合格后方可進(jìn)行破壞性試驗(yàn)。

典型雷電沖擊電壓波形的波前時(shí)間和半峰值時(shí)間通常也稱為（）。

與均勻電場(chǎng)相比，不均勻電場(chǎng)中空氣間隙的擊穿電壓大大下降。

采用（）進(jìn)行直流電阻測(cè)試，不能消除測(cè)試時(shí)連接線和接線柱接觸電阻對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。

電氣設(shè)備直流泄漏電流的測(cè)量，采用（）測(cè)量其大小。

當(dāng)被試品具有較大電容時(shí)，tanδ測(cè)試只能反映整體的絕緣狀況。

典型雷電沖擊電壓波形由波峰時(shí)間和半峰值時(shí)間確定。

IEC和我國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，操作沖擊電壓波形的波前時(shí)間為T(mén)1=250μs，容許偏差+20%。