采用（）進(jìn)行直流電阻測試，不能消除測試時(shí)連接線和接線柱接觸電阻對(duì)測量結(jié)果的影響。

tanδ測試時(shí)，隨著試驗(yàn)電壓U的變化，tanδ值呈開口環(huán)曲線，則試品屬于（）。

在工程實(shí)際中，對(duì)不同的間隙長度S，對(duì)應(yīng)的臨界波前時(shí)間T0一般均在（）之間。

磁場中磁力線線條稀疏處表示磁場（）。

當(dāng)被試品具有較大電容時(shí)，tanδ測試只能反映整體的絕緣狀況。

當(dāng)直流電壓加到被試品上時(shí)，絕緣介質(zhì)內(nèi)部或表面的帶電粒子作定向移動(dòng)形成的電流稱為（）。

M型介質(zhì)試驗(yàn)器往被試品上施加的交流試驗(yàn)電壓為（）。

在現(xiàn)場直流耐壓試驗(yàn)中，規(guī)程規(guī)定應(yīng)采用（）接線。

工頻耐壓試驗(yàn)時(shí)，接上試品后接通電源，開始進(jìn)行升壓時(shí)，在（）試驗(yàn)電壓以前升壓速度可以是任意的，之后應(yīng)均勻升壓，約以每秒2%試驗(yàn)電壓的速率升壓。

IEC和我國國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，操作沖擊電壓波形的波前時(shí)間為T1=250μs，容許偏差+20%。