M型介質(zhì)試驗(yàn)器往被試品上施加的交流試驗(yàn)電壓為（）。

采用（）進(jìn)行直流電阻測(cè)試，不能消除測(cè)試時(shí)連接線和接線柱接觸電阻對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。

在現(xiàn)場直流耐壓試驗(yàn)中，規(guī)程規(guī)定應(yīng)采用（）接線。

tanδ測(cè)試時(shí)，隨著試驗(yàn)電壓U的變化，tanδ值呈開口環(huán)曲線，則試品屬于（）。

氣體間隙的擊穿電壓與電場是否均勻（）。

用西林電橋測(cè)試tanδ時(shí)消除表面泄漏電流的接線方法是利用（）將表面泄漏電流直接回流到試驗(yàn)電源。

工頻耐壓試驗(yàn)時(shí)采用球間隙進(jìn)行測(cè)量，選定球隙放電電壓時(shí)，不得高于被試品試驗(yàn)?zāi)褪茈妷旱模ǎ话憧扇≡囼?yàn)電壓的80%。

全電路歐姆定律表明，在閉合回路中，電流的大小與電源電動(dòng)勢(shì)成（），與整個(gè)電路的電阻成反比。

幾個(gè)不等值的電阻串聯(lián)，每個(gè)電阻中通過的電流不相等。

當(dāng)電路斷開時(shí)，電源端電壓在數(shù)值上等于電源電動(dòng)勢(shì)。