A.強(qiáng)度測(cè)試
B.壓力測(cè)試
C.容量測(cè)試
D.性能測(cè)試
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你可能感興趣的試題
A.隨機(jī)地選取測(cè)試數(shù)據(jù)
B.取一切可能的輸入數(shù)據(jù)作為測(cè)試數(shù)據(jù)
C.在完成編碼以后制定軟件的測(cè)試計(jì)劃
D.選擇發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤可能性大的數(shù)據(jù)作為測(cè)試數(shù)據(jù)
A.父模塊
B.子模塊
C.驅(qū)動(dòng)模塊
D.樁模塊
A.需求分析(編制產(chǎn)品說(shuō)明書)
B.設(shè)計(jì)
C.編碼
D.產(chǎn)品發(fā)布
最新試題
代碼審查:是以審查小組運(yùn)行測(cè)試用例的形式進(jìn)行審查。
下列測(cè)試方法中,對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是()
軟件開發(fā)模型中,適用于需求不明,設(shè)計(jì)方案有一定風(fēng)險(xiǎn)的模型是()
在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是()。
測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù),但包括下面哪幾個(gè)內(nèi)容?()
敏捷開發(fā)模型不適用于大型開發(fā)項(xiàng)目。
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí),下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是()
H模型沒能體現(xiàn)“及早的和不斷的進(jìn)行軟件測(cè)試”原則。
測(cè)試進(jìn)度管理以進(jìn)度為首要目標(biāo),需把握好進(jìn)度與質(zhì)量、成本之間的關(guān)系。
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對(duì)其描述正確的是()