A.發(fā)現(xiàn)與預(yù)先定義的規(guī)格和標(biāo)準(zhǔn)不符合的問(wèn)題
B.發(fā)現(xiàn)軟件錯(cuò)誤征兆的過(guò)程
C.有計(jì)劃的、可重復(fù)的過(guò)程
D.消除軟件錯(cuò)誤的過(guò)程
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你可能感興趣的試題
A.探索測(cè)試
B.功能測(cè)試
C.動(dòng)態(tài)測(cè)試
D.靜態(tài)測(cè)試
A.測(cè)試存根
B.測(cè)試驅(qū)動(dòng)模塊
C.樁模塊
D.底層模塊
A.直接測(cè)試底層功能、過(guò)程、子程序和庫(kù)
B.可估算執(zhí)行測(cè)試時(shí)代碼量和具體代碼
C.從軟件獲得讀取變量和狀態(tài)信息的訪問(wèn)權(quán)
D.測(cè)試的是軟件在使用過(guò)程中的實(shí)際行為
A.程序的復(fù)雜程度
B.程序語(yǔ)句行數(shù)
C.程序模塊數(shù)
D.程序指令執(zhí)行時(shí)間
A.使每個(gè)判定的所有可能的條件取值組合至少執(zhí)行一次
B.使程序中的每個(gè)判定至少都獲得一次“真”值和“假”值。
C.使程序中的每個(gè)判定中每個(gè)條件的可能值至少滿足一次。
D.使程序中的每個(gè)可執(zhí)行語(yǔ)句至少執(zhí)行一次。
最新試題
模擬負(fù)載測(cè)試需要通過(guò)一些參數(shù)的設(shè)定來(lái)實(shí)現(xiàn)，常見(jiàn)參數(shù)包括“并發(fā)用戶數(shù)、思考時(shí)間、價(jià)值循環(huán)次數(shù)或持續(xù)時(shí)間、請(qǐng)求的數(shù)據(jù)量和加載的方式”。
下面對(duì)于開(kāi)發(fā)過(guò)程描述正確的是（）
（）僅僅依賴于白盒測(cè)試，可能會(huì)有遺漏。
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對(duì)其描述正確的是（）
在（）中，只需要考慮所有可能的執(zhí)行路徑，對(duì)于不可能執(zhí)行的路徑，是不需要考慮的。
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)，下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是（）
單元測(cè)試一般由專門的測(cè)試人員和開(kāi)發(fā)人員一起進(jìn)行。
在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。
自動(dòng)化測(cè)試不能夠完全替代手工測(cè)試，但是自動(dòng)化測(cè)試自動(dòng)運(yùn)行速度快，手工測(cè)試無(wú)法比。
關(guān)于混合漸增式testing的論述錯(cuò)誤的是（）。