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A.制定集成計(jì)劃
B.執(zhí)行集成測(cè)試
C.記錄集成測(cè)試結(jié)果
D.回歸測(cè)試
A.工作量分析
B.確定并說(shuō)明測(cè)試用例
C.確立并結(jié)構(gòu)化測(cè)試過(guò)程
D.復(fù)審并評(píng)估測(cè)試覆蓋
A.需求工件已經(jīng)被基線化
B.詳細(xì)設(shè)計(jì)工件已經(jīng)被基線化
C.構(gòu)架工件已經(jīng)被基線化
D.項(xiàng)目階段成果已經(jīng)被基線化
A.代碼規(guī)則檢查
B.程序結(jié)構(gòu)分析
C.程序復(fù)雜度分析
D.內(nèi)存泄漏
最新試題
模擬負(fù)載測(cè)試需要通過(guò)一些參數(shù)的設(shè)定來(lái)實(shí)現(xiàn)，常見(jiàn)參數(shù)包括“并發(fā)用戶數(shù)、思考時(shí)間、價(jià)值循環(huán)次數(shù)或持續(xù)時(shí)間、請(qǐng)求的數(shù)據(jù)量和加載的方式”。
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對(duì)其描述正確的是（）
敏捷開(kāi)發(fā)模型不適用于大型開(kāi)發(fā)項(xiàng)目。
測(cè)試中有風(fēng)險(xiǎn)存在：基于所使用的測(cè)試工具、測(cè)試方法、用例的局限性，某些情況下軟件缺陷不會(huì)被發(fā)現(xiàn)；所以我們應(yīng)當(dāng)正確使用測(cè)試用例，保障滿足一定的覆蓋率。
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)，下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是（）
H模型沒(méi)能體現(xiàn)“及早的和不斷的進(jìn)行軟件測(cè)試”原則。
下列測(cè)試方法中，對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是（）
增量模型適合適用于需求不明，設(shè)計(jì)方案有一定風(fēng)險(xiǎn)的項(xiàng)目。
自動(dòng)化測(cè)試不能夠完全替代手工測(cè)試，但是自動(dòng)化測(cè)試自動(dòng)運(yùn)行速度快，手工測(cè)試無(wú)法比。
以并發(fā)用戶數(shù)為例，進(jìn)行負(fù)載測(cè)試參數(shù)輸入時(shí)，下面哪一個(gè)不是負(fù)載測(cè)試的加載方式？（）