A.未焊透
B.開(kāi)裂
C.未熔合
D.以上都不是
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A.波型轉(zhuǎn)換
B.壓電效應(yīng)
C.折射
D.阻抗耦合
A.脈沖長(zhǎng)度
B.增益
C.脈沖重復(fù)頻率
D.掃描長(zhǎng)度
A.掃描電路
B.標(biāo)記電路
C.接收電路
D.同步電路
A.連續(xù)波顯示
B.A-掃描顯示
C.B-掃描顯示
D.C-掃描顯示
A.磁致伸縮原理
B.壓電的原理
C.波型轉(zhuǎn)換原理
D.以上都不是
最新試題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的（）。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
單探頭法容易檢出（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。