A.可變角探頭
B.直探頭
C.斜探頭
D.收發(fā)聯(lián)合雙晶探頭
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A.鍛件
B.棒坯
C.鑄錠
D.簿板
A.50mm
B.100mm
C.150mm
D.200mm
A.垂直入射
B.聲束與管材外表面相切
C.適當(dāng)?shù)剡x擇入射角
D.用切割的石英晶制作探頭
A.0dB
B.3dB
C.用實(shí)驗(yàn)方法實(shí)際測(cè)得的補(bǔ)償dB值
D.根據(jù)經(jīng)驗(yàn)而定
A.頻率升高
B.駐波現(xiàn)象
C.波型轉(zhuǎn)換
D.聲速變慢
最新試題
()是影響缺陷定量的因素。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。