判斷題晶片越厚頻率越低。
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檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題