當(dāng)被檢測材料的材質(zhì)晶粒粗大時(shí)，散射衰減嚴(yán)重，會引起草狀回波，使信噪比提高。

在平底孔、短橫孔等靈敏度試塊上進(jìn)行靈敏度調(diào)節(jié)的最終目的是為了實(shí)現(xiàn)缺陷的定量。

關(guān)于磁粉檢驗(yàn)的局限性的敘述，不正確的是（）。

下面視頻內(nèi)窺鏡測量技術(shù)，哪種不是陰影測量法：（）。

若要檢出鑄鋼閥體表面和近表面缺陷，宜采用（）。

按照ASME 規(guī)范要求可以用來作為目視檢驗(yàn)靈敏度試樣的是：（）。

檢測與工件軸線方向平行的缺陷時(shí)，不可使用的磁化方法是：（）。

穩(wěn)壓器的吊耳屬于：（）。

因?yàn)槌暡〞U(kuò)散衰減， 所以檢測必須在未擴(kuò)散區(qū)檢測。

鍛件磁粉檢驗(yàn)時(shí)，磁痕顯示不濃密，但對其表面打磨后磁痕更加清晰，可能是以下哪種缺陷造成的（）？