下列缺陷可能影響無損檢測(cè)結(jié)果判斷的是：（）。

C 型顯示是工件的平面投影圖，所以它可以得到某一深度范圍缺陷的三維形狀和分布。

鑄造管中表現(xiàn)特征為半球形，橢球形或蝌蚪形等空腔的缺陷稱為：（）。

原材料和零部件磁粉檢驗(yàn)的磁化方法一般不推薦使用（）。

鍛件磁粉檢驗(yàn)時(shí)，磁痕顯示不濃密，但對(duì)其表面打磨后磁痕更加清晰，可能是以下哪種缺陷造成的（）？

圖像傳導(dǎo)束光纖的直徑一般在：（）。

當(dāng)被檢測(cè)材料的材質(zhì)晶粒粗大時(shí)，散射衰減嚴(yán)重，會(huì)引起草狀回波，使信噪比提高。

下面視頻內(nèi)窺鏡測(cè)量技術(shù)，哪種不是陰影測(cè)量法：（）。

在平底孔、短橫孔等靈敏度試塊上進(jìn)行靈敏度調(diào)節(jié)的最終目的是為了實(shí)現(xiàn)缺陷的定量。

無損檢驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)之一在于能不損害被檢件的使用性能而確定被檢件的質(zhì)量。