問(wèn)答題畫出探傷儀在CS-1-5試塊探傷靈敏度余量測(cè)試圖。
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1.問(wèn)答題畫出焊縫軌底單探頭探傷靈敏度校準(zhǔn)圖
2.問(wèn)答題畫出一RC積分電路圖,并畫出其波形。
3.問(wèn)答題畫出在CSK-1A試塊上測(cè)定不同斜探頭K值圖。
4.問(wèn)答題畫出階梯試塊的外形圖及各部尺寸。
5.問(wèn)答題畫出A型超聲波探傷儀基本原理方框圖。
最新試題
為了提高探傷結(jié)果的可靠性,探傷前應(yīng)對(duì)被檢工件的()和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進(jìn)行調(diào)查。
題型:多項(xiàng)選擇題
根據(jù)接頭鋼軌下顎裂紋形成的原因,可知其具有從()逐步擴(kuò)展的特點(diǎn)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
耦合劑應(yīng)選擇容易附著在試件的表面上,有足夠的浸潤(rùn)性以排除()之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
探傷工技師對(duì)設(shè)備調(diào)整中的()的相關(guān)知識(shí)應(yīng)了解。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
探傷中采用軌頭側(cè)面校對(duì)法,它主要適用于()的校對(duì)。
題型:多項(xiàng)選擇題
通用儀器對(duì)焊補(bǔ)層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對(duì)靈敏度,以最大回波顯示的刻度來(lái)確定()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
探傷工藝流程中探傷技術(shù)規(guī)范主要指的是()
題型:多項(xiàng)選擇題
垂直法局部掃查即探頭在整個(gè)面上按規(guī)定,并事先劃出的線上移動(dòng),相鄰掃查線的間距往往()探頭直徑。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
探傷中探頭晶片尺寸增加,相應(yīng)的()對(duì)探傷有利。
題型:多項(xiàng)選擇題
探傷中為了保證工件的整個(gè)被檢部位有足夠的聲束覆蓋,探頭掃查線的相鄰距離應(yīng)小于探頭的有效直徑,應(yīng)有探頭寬度()的重疊。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題