A.2C
B.誤差
C.指標(biāo)差
D.橫軸誤差大氣折光誤差
E.對(duì)中誤差
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.導(dǎo)線測(cè)量
B.水準(zhǔn)測(cè)量
C.三角測(cè)量
D.距離測(cè)量
E.角度測(cè)量
A.前、后視距差
B.高差閉合差
C.紅、黑面讀數(shù)差
D.紅黑面高差之差
E.視準(zhǔn)軸不平行水準(zhǔn)管軸的誤差
A.由整體到局部
B.先測(cè)角后量距
C.在精度上由高級(jí)到低級(jí)
D.先控制后碎部
E.先進(jìn)行高程控制測(cè)量后進(jìn)行平面控制測(cè)量
A.儀器誤差
B.對(duì)中誤差
C.目標(biāo)偏誤差
D.豎軸誤差
E.照準(zhǔn)后估讀誤差
A.從上向下
B.從下向上
C.垂直
最新試題
GPS-RTK測(cè)圖時(shí)作業(yè)要求有PDOP值應(yīng)小于（）。
同步基線是利用同一時(shí)段的（）同步觀測(cè)站所采集的觀測(cè)數(shù)據(jù)所計(jì)算出的若干基線向量。
利用偽距作空間交會(huì)來(lái)定位點(diǎn)位的方法稱為（）
精密經(jīng)緯儀的主軸線有視準(zhǔn)軸、（）、數(shù)軸和光學(xué)（激光）對(duì)中器視軸等。
監(jiān)測(cè)基準(zhǔn)網(wǎng)點(diǎn)位穩(wěn)定性檢驗(yàn)方法有采用最小二乘平差的檢驗(yàn)方法、（）、采用最小二乘平差和數(shù)理統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)相結(jié)合的方法。
路線定義（主點(diǎn)法）曲線左偏時(shí)，半徑輸入為（）值。
度盤刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤位置削弱該誤差影響。
精密光學(xué)水準(zhǔn)儀的日常保養(yǎng)中，一般使用（）擦拭鏡片。
絕對(duì)定位定位精度為（）。
設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m，B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測(cè)A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點(diǎn)的高程為（）