A.4.5"
B.4.0"
C.5.6"
D.6.3"
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A.偶然性
B.統(tǒng)計(jì)性
C.累積性
D.抵償性
A.反號(hào)平均分配
B.按角度大小成比例反號(hào)分配
C.任意分配
D.分配給最大角
A.坐標(biāo)正算
B.坐標(biāo)反算
C.高斯正算
D.高斯反算
A.1975年國(guó)際橢球參數(shù)
B.克拉索夫斯基橢球參數(shù)
C.WGS-84橢球參數(shù)
D.貝塞爾橢球參數(shù)
A.度盤中心差
B.照準(zhǔn)部旋轉(zhuǎn)引起底座彈性扭轉(zhuǎn)
C.微動(dòng)螺旋間隙差
D.照準(zhǔn)部旋轉(zhuǎn)引起底座位移
最新試題
光電測(cè)距中對(duì)向觀測(cè)的作用是減弱大氣折光、()等對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。
精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑,則說(shuō)明光學(xué)部件有()現(xiàn)象。
DJ2光學(xué)經(jīng)緯儀的水平度盤讀數(shù)設(shè)定方法是,應(yīng)(),使水平度盤讀數(shù)對(duì)到需要設(shè)定的度數(shù)及的整數(shù)倍,同時(shí)使符合對(duì)徑分劃線上下精確對(duì)齊。
RTK測(cè)量的基本工作流程中,在至少()個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)(即點(diǎn)校正)。
()常采用獨(dú)立坐標(biāo)系統(tǒng)。
繪制坐標(biāo)方格網(wǎng),方格的邊長(zhǎng)應(yīng)準(zhǔn)確,誤差不超過(guò)()。
儀器及反光鏡的對(duì)中偏差均不應(yīng)大于()。
載波相位測(cè)量如觀測(cè)過(guò)程中跟蹤衛(wèi)星信號(hào)沒(méi)有中斷,則初始時(shí)刻整周相位是未知數(shù),通常為一個(gè)常數(shù),稱為()
精密經(jīng)緯儀的主軸線有視準(zhǔn)軸、()、數(shù)軸和光學(xué)(激光)對(duì)中器視軸等。
度盤刻劃誤差,可以按照()變換水平度盤位置削弱該誤差影響。