A、越高
B、不變
C、越小
D、隨機(jī)變化
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A、有變化
B、按正比規(guī)律變化
C、沒(méi)有變化
D、按反比規(guī)律變化
A、X射線束的能量
B、X射線束的強(qiáng)度
C、X射線束的能量和強(qiáng)度
D、X射線束的硬度
A、吸收一次射線束中波長(zhǎng)較長(zhǎng)的成分
B、吸收一次射線束中波長(zhǎng)較短的成分;
C、吸收背散射線
D、降低一次射線束的強(qiáng)度
A、校正不良清晰度
B、校正低密度
C、校正低對(duì)比度
D、校正低寬容度
A、產(chǎn)生二次射線以增強(qiáng)X射線束
B、獲得軟X射線
C、使X射線強(qiáng)度易于調(diào)整
D、濾掉不必要的軟射線,以得到比較單純的X射線束
最新試題
底片干燥時(shí),一般不得超過(guò)60℃,是因?yàn)椋ǎ?/p>
關(guān)于聲壓往復(fù)透射率,以下敘述正確的是()
半價(jià)層厚度與()相關(guān)。
關(guān)于近場(chǎng)長(zhǎng)度的說(shuō)法,正確的是()
射線經(jīng)過(guò)一個(gè)半價(jià)層后,其()衰減一半。
表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是()
在探傷靈敏度確定后,缺陷的當(dāng)量大?。ǎ?/p>
與直探頭相比,雙晶探頭()
在近場(chǎng)以外的部分,即聲程大于3N的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)聲壓與距離的關(guān)系為()
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()