A、變粗
B、變細(xì)
C、不均勻
D、顯影時(shí)間長短與顆粒大小無關(guān)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、5分鐘
B、20-60秒
C、與顯影時(shí)間相同
D、兩倍的顯影時(shí)間
A、5℃,5分鐘
B、15℃,5分鐘
C、20℃,5分鐘
D、25℃,5分鐘
A、配制定影液溫度過高
B、環(huán)境溫度急劇變化
C、使用了碳酸鹽顯影劑
D、使用了細(xì)粒膠片
A、定影液補(bǔ)充不足
B、洗片機(jī)不常使用而內(nèi)部潮濕
C、水洗槽中輥棒不正
D、過顯影
A、污染定影液
B、底片出現(xiàn)黃斑
C、底片出現(xiàn)灰霧
D、以上都是
最新試題
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
在射線照相時(shí),像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在()
焊縫超聲波探傷時(shí),當(dāng)探頭作定點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)或環(huán)繞運(yùn)動(dòng)是為了()
關(guān)于聲波的指向性和指向角,正確的是()
水浸式垂直探傷鋼板時(shí),超聲波進(jìn)入工件內(nèi)傳播的有()
下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場強(qiáng)度的是()
射線經(jīng)過一個(gè)半價(jià)層后,其()衰減一半。
在探傷靈敏度確定后,缺陷的當(dāng)量大?。ǎ?/p>
下列關(guān)于IIW試塊的說法,正確的是()
表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是()