A、設(shè)備接地
B、按制造廠家的規(guī)定程序訓(xùn)機(jī)
C、用探測(cè)儀探測(cè)輻射量并測(cè)定管制區(qū)
D、以上都對(duì)
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你可能感興趣的試題
A、先調(diào)整零點(diǎn)
B、經(jīng)常用已知黑度的底片校準(zhǔn)
C、以上都對(duì)
D、以上都錯(cuò)
A、波長(zhǎng)變化不完全成比例
B、管電壓和X射線設(shè)備的電壓波形隨負(fù)載發(fā)生變化
C、電流在線性比率上才能改變
D、散射線不能按比率變化
A、放大
B、變形
C、模糊
D、以上都對(duì)
A、射源至試件距離越遠(yuǎn),影像放大得越大
B、射源至試件的距離與試件至底片距離之比越大,影像放大得越大
C、射源至試件的距離與試件至底片距離之比越小,影像放大得越大
D、射源至試件的距離與影像放大無關(guān)
A、射源至底片的距離
B、曝光時(shí)間
C、KV
D、mA
最新試題
與直探頭相比,雙晶探頭()
檢查厚焊縫中沿熔合線方向的平面狀缺陷應(yīng)采用()
蒸汽除油方法不能用于()零件。
射線經(jīng)過一個(gè)半價(jià)層后,其()衰減一半。
顯示試件某一縱斷面的聲象的顯示方式為()
焊縫超聲波探傷時(shí),當(dāng)探頭作定點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)或環(huán)繞運(yùn)動(dòng)是為了()
半價(jià)層厚度與()相關(guān)。
下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度的是()
直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面()
小口徑管道射線探傷時(shí)常采用()方法透照。