A、對(duì)比度
B、不清晰度
C、顆粒度
D、以上都是
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A、射線照片上可發(fā)現(xiàn)的最小缺陷尺寸
B、射線照片上可識(shí)別的像質(zhì)計(jì)最小細(xì)節(jié)尺寸
C、對(duì)所有像質(zhì)計(jì)統(tǒng)一規(guī)定的像質(zhì)指數(shù)
D、以上都不是
A、射線照片記錄、顯示細(xì)節(jié)的能力
B、射線照相能夠發(fā)現(xiàn)的最小缺陷尺寸
C、射線照相能夠發(fā)現(xiàn)最小缺陷能力的定量評(píng)價(jià)
D、以上都對(duì)
A、感光度
B、襯度
C、溫度性能
D、密度
A、底片密度
B、缺陷影像尺寸
C、膠片顆粒性
D、觀片條件
E、個(gè)人視力差別
F、以上都是
A、5cd/m2
B、0.5cd/m2
C、1cd/m2
D、0.1cd/m2
最新試題
化學(xué)清洗用于去除工件表面的()
底片干燥時(shí),一般不得超過(guò)60℃,是因?yàn)椋ǎ?/p>
檢查厚焊縫中沿熔合線方向的平面狀缺陷應(yīng)采用()
焊縫斜探頭探傷時(shí)儀器示波屏?xí)r間軸按1:1調(diào)整后,其始波前沿()
小口徑管道射線探傷時(shí)常采用()方法透照。
半價(jià)層厚度與()相關(guān)。
鐵磁材料達(dá)到居里點(diǎn)時(shí),會(huì)發(fā)生什么現(xiàn)象()
脈沖反射法A型顯示取得缺陷信息是根據(jù)()
關(guān)于近場(chǎng)長(zhǎng)度的說(shuō)法,正確的是()
散射比的大小與()因素有關(guān)。