A、形狀
B、黑度
C、位置
D、以上都是
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A、底片高度曝光
B、X射線(xiàn)強(qiáng)度太高
C、工件底部未加工
D、背面散射
A、數(shù)量和密度
B、形狀
C、大小和位置
D、b和c
A、皺折
B、網(wǎng)狀皺紋
C、靜電
D、劃傷
A、隨影像寬度的減小而減小
B、隨影像寬度的減小而增大
C、不隨影像寬度而變化
D、在某一影像寬度處有一極大值
A、底片密度
B、缺陷影像尺寸
C、膠片顆粒性
D、觀片條件
E、個(gè)人視力差別
F、以上都是
最新試題
關(guān)于聲波的指向性和指向角,正確的是()
關(guān)于近場(chǎng)長(zhǎng)度的說(shuō)法,正確的是()
在近場(chǎng)以外的部分,即聲程大于3N的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)聲壓與距離的關(guān)系為()
直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面()
采用X射線(xiàn)機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
化學(xué)清洗用于去除工件表面的()
關(guān)于圓晶片輻射的超聲波,下列說(shuō)法正確的是()(S為傳播距離,N為近場(chǎng)長(zhǎng)度)。
射線(xiàn)照像底片產(chǎn)生黃色灰霧,其原因是()
散射比的大小與()因素有關(guān)。
選擇滲透探傷方法時(shí),對(duì)于疲勞裂紋、磨削裂紋及其它微小裂紋應(yīng)優(yōu)先選用()