A.常用衰減系數(shù)μ來(lái)表征射線強(qiáng)度減弱的快慢
B.物質(zhì)原子序數(shù)越大,衰減系數(shù)越大
C.對(duì)于同一種物質(zhì),射線能量不同時(shí)衰減系數(shù)是相同的
D.射線能量越高,衰減系數(shù)越小
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A.電子對(duì)效應(yīng)中,入射光子消失
B.光子轉(zhuǎn)化為1個(gè)正電子和1個(gè)負(fù)電子
C.普通X射線管發(fā)出的X射線,會(huì)出現(xiàn)電子對(duì)效應(yīng)
D.加速器產(chǎn)生的高能X射線,會(huì)出現(xiàn)電子對(duì)效應(yīng)
A.入射光子把全部能量傳遞給電子
B.入射光子消失
C.釋放光電子
D.入射光子改變方向
A.波長(zhǎng)相同
B.產(chǎn)生的方法相同
C.都是電磁波
D.以上都是
A.X射線和a射線
B.a射線和γ射線
C.X射線和β射線
D.X射線和γ射線
A.X射線和射線
B.無(wú)線電波
C.超聲波
D.可見(jiàn)光
最新試題
射線檢測(cè)存在一定的局限性,下面哪種說(shuō)法是錯(cuò)誤的()
下列哪一項(xiàng)對(duì)射線照相有效透照范圍的影響最大()
下列哪種不是射線照相法的特點(diǎn)()
RT檢測(cè)中,控制散射線的方法是采用哪種手段()
同位素的含義是()
對(duì)于檢測(cè)白點(diǎn)類內(nèi)部缺陷,適用的無(wú)損檢測(cè)方法是()
射線底片灰霧度過(guò)大會(huì)損害影像的()
射線檢測(cè)裂紋和其與裂紋的角度的關(guān)系是()
評(píng)片時(shí)對(duì)觀片燈的要求是()
下列與底片上缺陷觀察有關(guān)的因素是()