A.磁力曲線;
B.磁滯回線;
C.飽和曲線;
D.磁感應(yīng)曲線
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A.飽和點(diǎn);
B.磁場(chǎng);
C.鐵磁性;
D.順磁性
A.鐵磁性材料有磁滯現(xiàn)象;
B.隨著含碳量增高,矯頑力增大
C.鐵磁性材料的磁導(dǎo)率遠(yuǎn)大于1,它是與外磁場(chǎng)變化無(wú)關(guān)的常數(shù)
D.鐵磁性材料比順磁性材料較難達(dá)到磁飽和狀態(tài);
E.A和B
A.順磁性的;
B.抗磁性的;
C.非磁性的;
D.放射性的
A.以固定位置排列,方向相互抵消;
B.以固定位置排列,在一個(gè)方向占優(yōu)勢(shì);
C.無(wú)規(guī)則排列;
D.與金屬點(diǎn)陣相同
A.磁性強(qiáng);
B.根本無(wú)磁性;
C.磁性微弱;
D.缺乏電子運(yùn)動(dòng)
最新試題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場(chǎng)中,逐漸減小電流至零。
工件的退磁效果一般可用剩磁檢查儀或磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)測(cè)定。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2~10倍放大鏡進(jìn)行觀察。
濕法用磁粉粒度一般比干法小。
磁粉檢測(cè)—橡膠鑄型法是采用連續(xù)法檢測(cè)。
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí),檢測(cè)靈敏度不僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān),還受被檢工件材質(zhì)的影響。
剩磁法不能用于干法檢測(cè)。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí),按一條磁痕處理,其長(zhǎng)度為兩條磁痕之和加間距。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:檢測(cè)后加熱至600℃以上進(jìn)行熱處理的工件,一般可不進(jìn)行退磁。