A．周向磁化；
B．縱向磁化；
C．A和B；
D．A和B都不是
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A．產(chǎn)生強(qiáng)顯示；
B．產(chǎn)生弱顯示；
C．不產(chǎn)生顯示；
D．產(chǎn)生模糊顯示
A．與缺陷寬深比無關(guān)；
B．缺陷深度至少是其寬度的5倍；
C．缺陷的寬深比為1；
D．以上都不是
A．與磁場成180°角；
B．與磁場成45°角；
C．與磁場成90°角；
D．與電場成90°角
A、影響零件的磁導(dǎo)率
B、對(duì)磁場強(qiáng)度無影響
C、改變磁場強(qiáng)度
D、改變磁場方向
A．安培數(shù)；
B．安匝數(shù)；
C．瓦特?cái)?shù)；
D．歐姆數(shù)
最新試題
標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度，確定被檢工件的磁化規(guī)范。
對(duì)于交流線圈，線圈中的工件將影響電流的調(diào)整。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：大型工件可使用交流電磁軛進(jìn)行局部退磁或采用纏繞電纜線圈分段退磁。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：檢測后加熱至600℃以上進(jìn)行熱處理的工件，一般可不進(jìn)行退磁。
磁粉檢測，所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應(yīng)記錄并圖示。
工件的退磁效果一般可用剩磁檢查儀或磁場強(qiáng)度計(jì)測定。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2～10倍放大鏡進(jìn)行觀察。
打亂材料磁疇排布的兩種方法是：加熱到居里點(diǎn)溫度以上熱處理退磁法和反磁場退磁法。
用連續(xù)法檢測時(shí)，檢測靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響，僅與被檢工件表面磁場強(qiáng)度有關(guān)。
熒光磁粉檢測時(shí)，磁痕的評(píng)定應(yīng)在暗室或暗處進(jìn)行，暗室或暗處可見光照度應(yīng)不小于20Lx。