問(wèn)答題舉出兩種需要在磁粉探傷后進(jìn)行退磁處理的工件,并簡(jiǎn)述其理由。
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2.問(wèn)答題簡(jiǎn)述連續(xù)法和剩磁法磁粉探傷的操作程序。
3.問(wèn)答題簡(jiǎn)要說(shuō)明表面缺陷、近表面缺陷和偽缺陷磁痕的顯示特征
4.問(wèn)答題缺陷磁痕可分為幾類(lèi)?每種缺陷磁痕的特征是什么?
5.問(wèn)答題影響磁粉探傷靈敏度的主要因素有哪些?
最新試題
組合裝配件應(yīng)分解后再進(jìn)行磁粉檢測(cè)。
題型:判斷題
剩磁法不能用于干法檢測(cè)。
題型:判斷題
工件的退磁效果一般可用剩磁檢查儀或磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)測(cè)定。
題型:判斷題
采用剩磁法時(shí),磁懸液應(yīng)在通電結(jié)束后再施加,一般通電時(shí)間為2~3s。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí),按一條磁痕處理,其長(zhǎng)度為兩條磁痕之和加間距。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:磁粉檢測(cè)的工件表面不得有油脂、鐵銹、氧化皮或其它粘附磁粉的物質(zhì)。
題型:判斷題
材料磁導(dǎo)率低(剩磁大)及直流磁化后,退磁磁場(chǎng)換向的次數(shù)(退磁頻率)應(yīng)較多,每次下降的磁場(chǎng)值應(yīng)較小,且每次停留的時(shí)間(周期)要略長(zhǎng)。
題型:判斷題
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的水?dāng)嘣囼?yàn),主要是用來(lái)檢驗(yàn)水磁懸液對(duì)被檢表面的潤(rùn)濕性能,只有出現(xiàn)裸露的“水?dāng)唷北砻?,才可以開(kāi)始磁粉檢測(cè)。
題型:判斷題
在黑光燈下檢查熒光磁懸液的載液發(fā)出明顯的熒光,即可判定磁懸液污染。
題型:判斷題