單項(xiàng)選擇題ASME標(biāo)準(zhǔn)第Ⅴ卷(04版)第10章“附錄Ⅴ氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——示蹤探頭技術(shù)”要求校準(zhǔn)系統(tǒng)靈敏度應(yīng)在試驗(yàn)前和試驗(yàn)后以及試驗(yàn)中間隔不大于()

A.4h進(jìn)行一次;
B.6h進(jìn)行一次;
C.8h進(jìn)行一次;
D.10h進(jìn)行一次。


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1.單項(xiàng)選擇題ASME標(biāo)準(zhǔn)第Ⅴ卷(04版)第10章“附錄Ⅴ氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——示蹤探頭技術(shù)”要求檢驗(yàn)掃描應(yīng)從探測(cè)系統(tǒng)的:()

A.最下部開(kāi)始;
B.最上部開(kāi)始;
C.中部開(kāi)始;
D.任意部位開(kāi)始。

3.單項(xiàng)選擇題ASME標(biāo)準(zhǔn)第Ⅴ卷(04版)第10章“附錄Ⅲ鹵素二極管探測(cè)儀探頭試驗(yàn)”推薦的示蹤氣體為:()

A.六氟化硫(SF6);
B.二氯甲烷(CHCl2);
C.三氯一氟甲烷(CCl3F);
D.二氯二氟甲烷(CCl2F2);