單項(xiàng)選擇題ASME標(biāo)準(zhǔn)第Ⅴ卷(04版)第10章“附錄Ⅴ氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——示蹤探頭技術(shù)”要求校準(zhǔn)系統(tǒng)靈敏度應(yīng)在試驗(yàn)前和試驗(yàn)后以及試驗(yàn)中間隔不大于()
A.4h進(jìn)行一次;
B.6h進(jìn)行一次;
C.8h進(jìn)行一次;
D.10h進(jìn)行一次。
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1.單項(xiàng)選擇題ASME標(biāo)準(zhǔn)第Ⅴ卷(04版)第10章“附錄Ⅴ氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——示蹤探頭技術(shù)”要求檢驗(yàn)掃描應(yīng)從探測(cè)系統(tǒng)的:()
A.最下部開(kāi)始;
B.最上部開(kāi)始;
C.中部開(kāi)始;
D.任意部位開(kāi)始。
2.單項(xiàng)選擇題ASME標(biāo)準(zhǔn)第Ⅴ卷(04版)第10章“附錄Ⅳ氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——探測(cè)器探頭技術(shù)”對(duì)“保壓時(shí)間”規(guī)定為檢驗(yàn)以前,試驗(yàn)壓力應(yīng)至少先保持:()
A.15min;
B.20min;
C.25min;
D.30min。
3.單項(xiàng)選擇題ASME標(biāo)準(zhǔn)第Ⅴ卷(04版)第10章“附錄Ⅲ鹵素二極管探測(cè)儀探頭試驗(yàn)”推薦的示蹤氣體為:()
A.六氟化硫(SF6);
B.二氯甲烷(CHCl2);
C.三氯一氟甲烷(CCl3F);
D.二氯二氟甲烷(CCl2F2);
4.單項(xiàng)選擇題ASME標(biāo)準(zhǔn)第Ⅴ卷(04版)第10章“附錄Ⅱ氣泡試驗(yàn)——真空罩技術(shù)”對(duì)“泄漏顯示”的描述為材料或焊縫表面上有連續(xù)的氣泡出現(xiàn),就表示被檢區(qū)域中有:()
A.表面裂紋泄漏;
B.表面氣孔泄漏;
C.表面夾雜泄漏;
D.穿透針孔泄漏。
5.單項(xiàng)選擇題ASME標(biāo)準(zhǔn)第Ⅴ卷(04版)第10章“附錄Ⅰ氣泡試驗(yàn)——直接加壓技術(shù)”中規(guī)定,試驗(yàn)氣體通常是()
A.氧氣;
B.氫氣;
C.空氣;
D.氦氣。
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