A.可在光線較暗的環(huán)境下觀察缺陷
B.被探測(cè)零件表面不會(huì)被腐蝕
C.對(duì)零件和環(huán)境的污染小
D.較易檢出微小的缺陷
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A.沖洗不夠
B.后乳化法時(shí)乳化時(shí)間不足
C.多孔性材料和涂層
D.以上都可能
A.預(yù)清洗
B.乳化
C.對(duì)顯示跡痕的判斷與解釋
D.滲透劑的清除
A.對(duì)于微細(xì)裂紋的顯示，厚的顯示劑涂層比薄的涂層更為清晰
B.黑色顯示劑的反差比白色顯示劑好
C.應(yīng)使用壓縮空氣清除多余的顯示劑
D.對(duì)于微細(xì)裂紋的顯示，薄的顯示劑涂層比的厚涂層更為清晰
A.測(cè)定滲透劑的粘度
B.測(cè)量滲透劑的潤(rùn)濕能力
C.在具有人工裂紋的A型鋁合金試塊或B型鍍鉻試塊上通過(guò)對(duì)比試驗(yàn)確定
D.上述方法都需要
A.溶劑去除型熒光滲透法
B.溶劑去除型著色滲透法
C.后乳化型熒光滲透法
D.后乳化型著色滲透法
最新試題
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。