A.定影時(shí)間
B.通透時(shí)間
C.豎膜時(shí)間
D.還原時(shí)間
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A.寬度尺寸較小的細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性
B.影響細(xì)小缺陷的可檢驗(yàn)性
C.導(dǎo)致影像對(duì)比度降低
D.以上都是
A、射線源焦點(diǎn)尺寸太大
B、源到底片的距離過(guò)小
C、膠片與增感屏接觸不良
D、以上都是
A、小焦點(diǎn)比大焦點(diǎn)好
B、大焦點(diǎn)比小焦點(diǎn)好
C、圓焦點(diǎn)比方焦點(diǎn)好
D、方焦點(diǎn)比圓焦點(diǎn)好
A.線質(zhì)變硬,強(qiáng)度不變,波長(zhǎng)
B.線質(zhì)不變,強(qiáng)度增加,波長(zhǎng)不變
C.線質(zhì)變軟,強(qiáng)度降低,波長(zhǎng)變長(zhǎng)
D.線質(zhì)不變,強(qiáng)度降低,波長(zhǎng)變長(zhǎng)
A.峰值電壓
B.平均值電壓
C.有效值電壓
D.均方根值電壓
最新試題
下述有關(guān)咬邊缺陷產(chǎn)生原因的敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
運(yùn)動(dòng)、幾何因素和增感屏的接觸情況,這三種因素影響射線照相的()。
射線檢測(cè)適用對(duì)象為()。
對(duì)于核反應(yīng)堆的核燃料質(zhì)量檢查,較適宜的無(wú)損檢測(cè)方法是()。
下列哪一因素不是導(dǎo)致冷裂紋產(chǎn)生的原因()
對(duì)于射線檢驗(yàn)的防護(hù)而言,應(yīng)著重考慮的是()。
鍛件檢測(cè)一般不采用射線照相法的原因是()
在國(guó)際單位制中,常用()表示磁場(chǎng)強(qiáng)度。
中子射線具有獨(dú)特的穿透能力,但容易被()吸收。
熒光磁粉顯示應(yīng)在()光線下檢驗(yàn)。