單項(xiàng)選擇題下列黑盒測(cè)試技術(shù)的說法正確的是：（）。

A、黑盒測(cè)試技術(shù)中的邊界值分析在很大程度上是試探性的，與設(shè)計(jì)者的經(jīng)驗(yàn)有關(guān)
B、黑盒測(cè)試技術(shù)中的劃分等價(jià)類在很大程度上是試探性的，與設(shè)計(jì)者的經(jīng)驗(yàn)有關(guān)
C、黑盒測(cè)試技術(shù)中的錯(cuò)誤推測(cè)法在很大程度上是試探性的，與設(shè)計(jì)者的經(jīng)驗(yàn)有關(guān)
D、黑盒測(cè)試技術(shù)中的邏輯覆蓋法在很大程度上是試探性的，與設(shè)計(jì)者的經(jīng)驗(yàn)有關(guān)


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1.單項(xiàng)選擇題下列黑盒測(cè)試技術(shù)的說法錯(cuò)誤的是：（）。

A、劃分等價(jià)類屬于黑盒測(cè)試技術(shù)
B、邊界值分析屬于黑盒測(cè)試技術(shù)
C、錯(cuò)誤推測(cè)法屬于黑盒測(cè)試技術(shù)
D、邏輯覆蓋法屬于黑盒測(cè)試技術(shù)

2.單項(xiàng)選擇題下列系統(tǒng)測(cè)試的說法正確的是：（）。

A、所謂系統(tǒng)測(cè)試就是同時(shí)運(yùn)行新開發(fā)出來的系統(tǒng)和將被它取代的舊系統(tǒng)，以便比較新舊兩個(gè)系統(tǒng)的處理結(jié)果
B、所謂模塊測(cè)試就是同時(shí)運(yùn)行新開發(fā)出來的系統(tǒng)和將被它取代的舊系統(tǒng)，以便比較新舊兩個(gè)系統(tǒng)的處理結(jié)果
C、所謂驗(yàn)收測(cè)試就是同時(shí)運(yùn)行新開發(fā)出來的系統(tǒng)和將被它取代的舊系統(tǒng)，以便比較新舊兩個(gè)系統(tǒng)的處理結(jié)果
D、所謂平行測(cè)試就是同時(shí)運(yùn)行新開發(fā)出來的系統(tǒng)和將被它取代的舊系統(tǒng)，以便比較新舊兩個(gè)系統(tǒng)的處理結(jié)果

3.單項(xiàng)選擇題下列測(cè)試的目的的說法正確的是：（）。

A、系統(tǒng)測(cè)試的目的是驗(yàn)證系統(tǒng)確實(shí)能夠滿足用戶的需要
B、模塊測(cè)試的目的是驗(yàn)證系統(tǒng)確實(shí)能夠滿足用戶的需要
C、平行測(cè)試的目的是驗(yàn)證系統(tǒng)確實(shí)能夠滿足用戶的需要
D、驗(yàn)收測(cè)試的目的是驗(yàn)證系統(tǒng)確實(shí)能夠滿足用戶的需要

4.單項(xiàng)選擇題下列集成測(cè)試的說法正確的是：（）。

A、子系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)收測(cè)試都兼有檢測(cè)和組裝雙重含義，通常稱為集成測(cè)試
B、子系統(tǒng)測(cè)試和模塊測(cè)試都兼有檢測(cè)和組裝雙重含義，通常稱為集成測(cè)試
C、子系統(tǒng)測(cè)試和平行測(cè)試都兼有檢測(cè)和組裝雙重含義，通常稱為集成測(cè)試
D、子系統(tǒng)測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試都兼有檢測(cè)和組裝雙重含義，通常稱為集成測(cè)試

5.單項(xiàng)選擇題下列測(cè)試模塊的接口的說法正確的是：（）。

A、驗(yàn)收測(cè)試著重測(cè)試模塊的接口
B、模塊測(cè)試著重測(cè)試模塊的接口
C、平行測(cè)試著重測(cè)試模塊的接口
D、子系統(tǒng)測(cè)試著重測(cè)試模塊的接口