A、仍按20%探傷，但探傷方法選用射線照相，Ⅲ級(jí)合格
B、進(jìn)行100%的射線照相，母材厚度超過38mm時(shí)還應(yīng)進(jìn)行局部超聲探傷，Ⅲ級(jí)合格
C、進(jìn)行100%的射線照相，母材超過38mm時(shí)還應(yīng)進(jìn)行局部超聲探傷，Ⅱ級(jí)合格
D、以上均可
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A、探傷人員
B、制造廠檢驗(yàn)部門根據(jù)實(shí)際情況
C、設(shè)計(jì)人員
D、以上均可
A、圓形缺陷是按規(guī)定評(píng)定區(qū)框線內(nèi)缺陷折算成點(diǎn)數(shù)來評(píng)定的。由于不同的評(píng)片人員使用評(píng)定區(qū)框線的誤差、框線放置的差異及測(cè)量誤差，將引起缺陷尺寸的差異，而缺陷尺寸的差異，必然引起折算點(diǎn)數(shù)的差異（如4mm折算成6點(diǎn)，4.01mm折算成10點(diǎn)），就是對(duì)同一個(gè)評(píng)片人也會(huì)出現(xiàn)級(jí)別的差異，因此容器制造廠驗(yàn)收或RT人員實(shí)際考試也允許這種差異
B、雖然制造廠100%透照，由于缺陷處于底片的部位不同，特別是外透照的端部端部缺陷與中心一次全曝光的底片相比，前者缺陷拉長(zhǎng)，后者缺陷較小，就是同一個(gè)評(píng)片人用同一套工具測(cè)量缺陷，也會(huì)出現(xiàn)不同的結(jié)論
C、AB均是強(qiáng)詞奪理，應(yīng)評(píng)為不合格，屬于產(chǎn)品質(zhì)量問題，退修
D、AB是對(duì)的，這屬于照相技術(shù)本身的問題，非屬產(chǎn)品質(zhì)量的問題
A、通常情況下必須選擇這樣的曝光量，這主要是限制操作者采用高管電壓（降低對(duì)比度），短焦距（降低幾何不清晰度）快速照相的不良做法，確保底片的靈敏度和X光射線機(jī)安全運(yùn)行
B、特殊情況下，不受限制
C、對(duì)于小直徑管子對(duì)接焊縫，也可采用“高能量短時(shí)間”操作，這又是一個(gè)特例
D、以上都對(duì)
A、L1≥2L3
B、L1≥3L3
C、L1≥1.5L3
D、以上都不對(duì)
A、衛(wèi)生部門辦理
B、公安部門辦理
C、環(huán)保部門辦理
D、上級(jí)主管部門辦理
最新試題
產(chǎn)生干涉的兩列相干波，在振動(dòng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生不同的波程差，波程差與波長(zhǎng)相關(guān)聯(lián)，所以不同的波程差會(huì)出現(xiàn)（）等現(xiàn)象。
表面活性劑分子在水或水溶液表面的吸附近于飽和時(shí)，水或水溶液的極性表面在很大程度上就被表面活性劑分子覆蓋，這時(shí)水或水溶液的（）。
超聲場(chǎng)中波源軸線上任一點(diǎn)聲壓的幅值與下列（）等因素有關(guān)。
下列關(guān)于無限大固體介質(zhì)中聲速的說法錯(cuò)誤的有（）。
后乳化型熒光滲透劑本身不含乳化劑，不起乳化作用，需經(jīng)乳化后才能用水清洗，不易被去除，可以用于（）的檢驗(yàn)。
磁化曲線是表征鐵磁性材料磁特性的曲線，用以表示（）。
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有（）。
磁性成像可分為磁場(chǎng)成像和磁性成像，對(duì)其描述正確的有（）。
筒形或環(huán)形鍛件的鍛造工藝是先鐓粗，后沖孔，再滾壓。因此，缺陷的取向比軸類鍛件和餅類鍛件中的缺陷取向復(fù)雜。所以對(duì)這類鍛件一般采用（）進(jìn)行檢測(cè)。
用半價(jià)層描述的某種能量的射線是指（）。