單項(xiàng)選擇題在中子照相中需要使用轉(zhuǎn)換屏，它在接受中子照射后能放出（）輻射而使X射線膠片感光。
A.α
B.β
C.γ
D.A、B和C
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1.單項(xiàng)選擇題采用中子照相法時(shí)，其曝光需要先經(jīng)過(guò)轉(zhuǎn)換屏轉(zhuǎn)換，然后（）。
A.直接在熒光屏顯示缺陷圖象
B.利用熒光增感屏+X射線膠片曝光
C.再使用X射線膠片曝光
D.以上都不對(duì)
2.單項(xiàng)選擇題在切裝膠片時(shí)，膠片與膠片、膠片與某些物體發(fā)生摩擦而產(chǎn)生靜電使膠片感光，在射線照片上形成偽缺陷之一的靜電斑紋，其基本形態(tài)是（）。
A.點(diǎn)狀斑紋
B.冠狀斑紋
C.樹枝狀斑紋
D.A、B和C
3.單項(xiàng)選擇題采用4.5㎜×4.5mm方形有效焦點(diǎn)的X光機(jī)透照厚度100mm的工件，當(dāng)焦距為1000mm時(shí)，其“幾何不清晰度”為（）。
A、0.25mm
B、0.5mm
C、0.75mm
D、1mm
4.單項(xiàng)選擇題（）曲線是給定X射線機(jī)在選定工藝條件下制作的。
A.曝光
B.膠片特性
C.非增感型
D.增感型
5.單項(xiàng)選擇題在（）中，光子以全部能量轉(zhuǎn)換成電子動(dòng)能。
A.光電效應(yīng)
B.康普頓效應(yīng)
C.電子對(duì)生成效應(yīng)
D.電離效應(yīng)
最新試題
超聲波探傷儀要盡量避免在（）場(chǎng)合使用。
題型：多項(xiàng)選擇題
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí)，缺陷定位說(shuō)法正確的有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
探頭主聲束（）將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。
題型：多項(xiàng)選擇題
人的眼睛在強(qiáng)光下，（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
聚焦聲源發(fā)射的聲場(chǎng)特點(diǎn)是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
滲透劑檢測(cè)壓力噴灌的存放應(yīng)避免（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū)，說(shuō)法正確的是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí)，（）。
題型：多項(xiàng)選擇題