A.修補(bǔ)零件
B.標(biāo)記零件
C.用磁粉方法重新檢驗(yàn)缺陷部位
D.測(cè)量厚度,看其是否小于最小厚度
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、磁粉探傷部位的厚度
B、磁極對(duì)焊縫相對(duì)位置的安置及磁極間距
C、反磁場的影響
D、以上都是
A.會(huì)使磁場減弱
B.可能產(chǎn)生磁寫
C.可能損傷零件
D.使零件難拿
A、必須更改圖紙
B、零件必須報(bào)廢
C、發(fā)一份不符合檢驗(yàn)要求的報(bào)告
D、在零件上標(biāo)紅漆等候處理
A.遮蓋
B.濾波器
C.背鉛屏
D.A、B和C
A.射線性質(zhì)與強(qiáng)度
B.離源距離和照射時(shí)間
C.屏蔽材料的種類與厚度
D.輻射源的尺寸和比度
最新試題
關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說法正確的有()。
表面波檢測(cè)中,利用表面波檢測(cè)()效果好。
磁場信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
滲透檢測(cè)時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說法正確的有()。
探頭主聲束()將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。
常規(guī)的縱波聲場或橫波聲場,聲速是以一定的角度擴(kuò)散出去的,所以有()。
超聲檢測(cè)時(shí)對(duì)工件無腐蝕的耦合劑是()。
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測(cè),缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
非熒光磁粉檢測(cè)時(shí),可見光照度不小于1000lx,并應(yīng)避免()。