A.50~200mm范圍內(nèi)
B.75~200mm范圍內(nèi)
C.80~200mm范圍內(nèi)
D.A、B和C
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你可能感興趣的試題
A、軸向通電磁化
B、線圈法縱向磁化
C、觸頭法通電磁化
D、磁軛法磁化
A.1/2的磁極間距
B.1/3的磁極間距
C.1/4的磁極間距
D.3/4的磁極間距
A.用A型試驗(yàn)片可以估計(jì)磁場(chǎng)強(qiáng)度的大小是否滿足靈敏度要求
B.A型試驗(yàn)片貼在試件上時(shí),要把有槽的一面作為外側(cè)
C.試片上的數(shù)字15/100是表示槽的深度為100μm,寬度為15μm
D.A、B和C
A.試片厚度為15/100mm
B.試片上的槽深為15/100mm
C.試片厚度100μm,槽深15μm
D.槽深100μm,槽寬15μm
A、實(shí)際應(yīng)用中對(duì)切斷磁化時(shí)間沒有多大關(guān)系
B、完成噴灑磁懸液的同時(shí)中止
C、噴灑磁懸液后1S內(nèi)中止
D、噴灑磁懸液前1S中止
最新試題
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
冷裂紋常見的有()。
滲透檢測(cè)時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說法正確的有()。
超聲波探傷儀要盡量避免在()場(chǎng)合使用。
人的眼睛在強(qiáng)光下,()。
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測(cè),缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說法正確的有()。
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí),()。