成像測(cè)量法存在的問題，是當(dāng)物體沿景深方向移動(dòng)時(shí)，會(huì)造成放大倍率的變化，這會(huì)（）測(cè)量精度。因此，需要解決自動(dòng)調(diào)焦的問題。

具有可變電阻型伏安特性的光電檢測(cè)器件包括（）。

光電探測(cè)器的選擇要點(diǎn)包括（）。

幾何變換的光電檢測(cè)方法，是利用光束傳播的（）、成像等光學(xué)變換方法進(jìn)行的光電檢測(cè)和控制。

電光效應(yīng)反映介質(zhì)折射率與電場強(qiáng)度可能呈（）。

紅外檢測(cè)技術(shù)是集光電成像、計(jì)算機(jī)技術(shù)、圖像處理于一身的綜合光電檢測(cè)技術(shù)。

以下是CCD的發(fā)明者有（）。

對(duì)于相干檢測(cè)方法，（）干涉條紋的間距，有利于提高信號(hào)檢測(cè)的對(duì)比度和增大交變分量的幅值。

CMOS的字母C的英文單詞是（）。

具有光伏型伏安特性的光電檢測(cè)器件包括（）。