微電阻率成像測(cè)井無(wú)效（壞）電極數(shù)不應(yīng)超過(guò)（）。

井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí)，發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線(xiàn)總是相似的，與介質(zhì)的電阻率（）。

微電阻率成像三井徑曲線(xiàn)變化正常，除橢圓井眼外，在井眼規(guī)則處應(yīng)（）。

脈沖中子能譜測(cè)井儀的主要用途是什么？

當(dāng)水體漸進(jìn)時(shí)，沉積范圍逐漸擴(kuò)大，較新沉積層覆蓋了較老沉積層，并向陸地?cái)U(kuò)展，與更老的地層侵蝕面成不整合接觸，在柱狀剖面上，表現(xiàn)為下粗上細(xì)特征，這種現(xiàn)象稱(chēng)為（）。

影響核磁共振測(cè)井的主要因素包括（）、孔隙流體及巖石的潤(rùn)濕性和地層磁化率差異。

核磁共振弛豫受三種機(jī)制控制：表面弛豫、體積弛豫和（）。

在相同的外加磁場(chǎng)中，不同的原子核的進(jìn)動(dòng)頻率（）。

核磁共振測(cè)井時(shí)，當(dāng)?shù)貙涌紫抖炔恍∮?5%時(shí)，孔隙度曲線(xiàn)重復(fù)測(cè)量值的相對(duì)誤差（）10%。

超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、（）、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。