設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m，B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點(diǎn)的高程為（）

儀器及反光鏡的對中偏差均不應(yīng)大于（）。

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。

路線定義（主點(diǎn)法）曲線左偏時(shí)，半徑輸入為（）值。

下列（）不屬于隧道斷面測量的主要方法。

雙面水準(zhǔn)尺中，以下說法正確的是（）。

度盤刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤位置削弱該誤差影響。

精密光學(xué)水準(zhǔn)儀的日常保養(yǎng)中，一般使用（）擦拭鏡片。

若依次采用元素法、主點(diǎn)法或交點(diǎn)法三種路線定義方法，那么路線定義的最終數(shù)據(jù)為最后采用（）的定義方法所得到的有效數(shù)據(jù)。

精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測量高程時(shí)應(yīng)使用（）