填空題用正常的金相學(xué)方法來制作被測鍍層的斷面試樣,然后在帶有測微目鏡的金相微鏡上觀察被測鍍層橫斷面的放大圖像,從而直接測量鍍層的局部厚度的平均厚度,這種鍍層的厚度測試方法叫做()。
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分離的空穴在移動到電極表面后沒有因電極反應(yīng)而消耗,在電極表面聚集形成光電壓,降低能帶彎曲,時Fermi能級向平帶電位移動。
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