A.化學(xué)干擾
B.物理干擾
C.電離干擾
D.背景干擾
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A.減小背景
B.釋放劑
C.消電離劑
D.提高火焰溫度
A.釋放劑
B.保護(hù)劑
C.標(biāo)準(zhǔn)加入法
D.扣除背景
A.光源
B.原子化器
C.檢測(cè)器
D.切光器
A.單色器
B.色散率
C.分辨率
D.狹縫寬度
A.自然寬度
B.多普勒變寬
C.勞倫茲變寬
D.赫魯茲馬克變寬
最新試題
電噴霧電離源適用于強(qiáng)極性、不穩(wěn)定、難揮發(fā)、大分子量的樣品分析。
消除AAS測(cè)試中的電離干擾可采用適當(dāng)控制火焰溫度,加入消電離劑(主要為堿金屬元素)等來(lái)抑制待測(cè)原子的電離。
速率理論是以熱力學(xué)平衡為基礎(chǔ)的,而塔板理論是以動(dòng)力學(xué)為基礎(chǔ)的。
色譜流出曲線圖是將待分離組分經(jīng)過(guò)色譜柱的分離后進(jìn)入檢測(cè)器,以檢測(cè)器檢測(cè)到的響應(yīng)信號(hào)為橫坐標(biāo),時(shí)間或流動(dòng)相的體積為縱坐標(biāo)所得的曲線圖。
在AAS測(cè)試中,火焰原子化時(shí),通常調(diào)節(jié)霧化器可以改變和控制進(jìn)樣速度。
在AAS測(cè)試中的化學(xué)干擾可通過(guò)化學(xué)分離,使用高溫火焰,加入釋放劑和保護(hù)劑,加入緩沖劑或基體改進(jìn)劑等方法來(lái)克服。
質(zhì)譜儀中真空系統(tǒng)的作用是使離子在真空狀態(tài)下從離子源到達(dá)檢測(cè)器。
內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行氣相色譜定量分析時(shí),內(nèi)標(biāo)物的色譜峰必須與各個(gè)組分的色譜峰完全分離。
軟電離離子化能量高,分子離子的碎片信息豐富,提供的分子官能團(tuán)等結(jié)構(gòu)信息。
離子選擇性電極的校準(zhǔn)曲線的直線部分所對(duì)應(yīng)的離子活度范圍稱為離子選擇性電極的線性范圍。