A.直流電弧–低壓交流電弧–火花–ICP
B.ICP–火花–低壓交流電弧–直流電弧
C.火花–低壓交流電弧–直流電弧–ICP
D.低壓交流電弧–火花–直流電弧–ICP
E.火花–直流電弧–低壓交流電弧–ICP
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A.折射
B.發(fā)射
C.吸收
D.散射
E.透射
A.光電池
B.光電管
C.光電倍增管
D.感光板
E.CCD
A.電極插入樣品觸點(diǎn)時(shí)好時(shí)壞
B.重復(fù)性差
C.原子化效率較低
D.設(shè)備復(fù)雜
E.靈敏度高
A.將試樣中待測(cè)元素轉(zhuǎn)化為基態(tài)原子
B.將試樣中待測(cè)元素轉(zhuǎn)化為激發(fā)態(tài)原子
C.將試樣中待測(cè)元素轉(zhuǎn)化為中性分子
D.將試樣中待測(cè)元素轉(zhuǎn)化為離子
E.將試樣中待測(cè)元素轉(zhuǎn)化為基態(tài)分子
A.電子的發(fā)射
B.電子相對(duì)于原子核的運(yùn)動(dòng)以及核間相對(duì)位移引起的振動(dòng)和轉(zhuǎn)動(dòng)
C.質(zhì)子的運(yùn)動(dòng)
D.離子的運(yùn)動(dòng)
E.分子的運(yùn)動(dòng)
最新試題
不影響雙磁路磁珠法進(jìn)行凝血測(cè)試的因素是()
離心機(jī)日常使用的維護(hù)包括()
標(biāo)本前處理系統(tǒng)可對(duì)樣品進(jìn)行多種方式的標(biāo)識(shí)包括()
原子吸收光譜儀在工作過(guò)程中出現(xiàn)分析結(jié)果偏高的故障時(shí),常見(jiàn)的原因有()
快速血糖儀質(zhì)控物測(cè)定的目的是()
關(guān)于毛細(xì)管黏度計(jì)下列敘述正確的是()
分光光度計(jì)出現(xiàn)測(cè)光精度不準(zhǔn)故障時(shí),可能的原因包括()
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根據(jù)大小和重量,可以將POCT儀分型成()
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