A.1:10
B.1:100
C.1:1000
D.1:10000
E.1:100000
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B.成像板
C.閃爍體+CCD攝像機(jī)陣列
D.直接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器
E.間接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器
A.硒鼓檢測(cè)器
B.IP成像轉(zhuǎn)換器
C.直接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器
D.間接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器
E.多絲正比室檢測(cè)器
A.成像方式
B.操作方式
C.床旁攝影
D.可應(yīng)用于常規(guī)攝影
E.與常規(guī)X線(xiàn)設(shè)備匹配
A.圖像存儲(chǔ)
B.成像能源
C.轉(zhuǎn)換介質(zhì)
D.成像方式
E.傳輸方式
A.有直接轉(zhuǎn)換型和間接轉(zhuǎn)換型
B.其極限分辨率比屏/片系統(tǒng)低
C.其MTF比屏/片系統(tǒng)低
D.其DQE比屏/片系統(tǒng)高
E.DQE比CR系統(tǒng)高
A.IP由基層、熒光體層和保護(hù)層構(gòu)成
B.IP由基層、晶體層構(gòu)成
C.IP用于檢測(cè)圖像數(shù)據(jù)
D.IP用于存儲(chǔ)圖像數(shù)據(jù)
E.IP用于傳輸圖像數(shù)據(jù)
A.400
B.200
C.100
D.50
E.10
A.直接探測(cè)器
B.間接探測(cè)器
C.模擬探測(cè)器
D.平板探測(cè)器
E.動(dòng)態(tài)探測(cè)器
最新試題
能用于IP的是()
CR的成像是利用()
讀取裝置輸出的信號(hào)是()
FPD能夠成為平板形狀,主要是探測(cè)器的單元陣列采用的是()
DR的中文全稱(chēng)為()
CR的缺點(diǎn)有()
直接數(shù)字化X射線(xiàn)攝影,硒物質(zhì)直接轉(zhuǎn)換技術(shù)X射線(xiàn)的吸收率高于間接轉(zhuǎn)換技術(shù)()
數(shù)字化X射線(xiàn)成像系統(tǒng)的量子檢測(cè)率可達(dá)()
顯影液使用的是()
CR的圖像處理功能,不包括()