在故障樹(shù)分析中，設(shè)各底事件出現(xiàn)在其中的最小割集階數(shù)為α，在全部最小割集中出現(xiàn)的次數(shù)為n，該底事件重要程度為C，那么下面說(shuō)法正確的是（）

可靠性試驗(yàn)中，環(huán)境應(yīng)力篩選最有效辦法是：（）和（）

應(yīng)力分析法適用于電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的（）

產(chǎn)品可靠性與（）無(wú)關(guān)。

一個(gè)機(jī)械電子系統(tǒng)包括一部雷達(dá)，一臺(tái)計(jì)算機(jī)，一個(gè)輔助設(shè)備，其壽命都服從指數(shù)分布。其MTBF分別為100小時(shí)，200小時(shí)和100小時(shí)，則系統(tǒng)的MTBF為（）

可靠性預(yù)測(cè)與分配的目的是確定產(chǎn)品的可靠度

什么是失效？什么是失效模式？研究產(chǎn)品失效的方法主要有哪幾種？

采用加速壽命試驗(yàn)應(yīng)注意：（）和（）

抽樣的兩類(lèi)風(fēng)險(xiǎn)分別是什么？

可靠性試驗(yàn)可以分為工程試驗(yàn)和（）