缺失,患者要求做可摘局部義齒修復(fù)。設(shè)計為上放置間隙卡環(huán)
此種可摘局部義齒裝盒的方法是()
A.將模型、卡環(huán)、人工牙包埋于下型盒,只暴露腭側(cè)蠟基托
B.將模型、卡環(huán)包埋于下型盒,暴露腭側(cè)蠟基托和人工牙
C.將模型、人工牙包埋于下型盒,暴露腭側(cè)蠟基托和卡環(huán)
D.將模型、人工牙、卡環(huán)、腭側(cè)蠟基托全部暴露
E.將模型、包埋于下型盒,暴露腭側(cè)蠟基托、卡環(huán)和人工牙
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缺失,患者要求做可摘局部義齒修復(fù)。設(shè)計為上放置間隙卡環(huán)
制作蠟型時,基托的伸展范圍是()
A.尖牙的遠中
B.第一前磨牙的近中
C.第一前磨牙的遠中
D.第二前磨牙的遠中
E.尖牙的近中
A.9歲左右
B.10歲左右
C.11歲左右
D.12歲左右
E.13歲左右
A.Ⅰ類
B.Ⅱ類1分類
C.Ⅱ類2分類
D.Ⅲ類
E.Ⅲ類亞類
A.斜面導(dǎo)板導(dǎo)下頜向前
B.前牙平面導(dǎo)板下加雙曲舌簧+單曲舌卡+活動矯治器
C.分裂簧分裂基托矯治器
D.雙側(cè)后牙墊式矯治器
E.單側(cè)后牙墊式矯治器
患者男性,24歲,因牙面上橫紋就診,查體:雙側(cè)牙冠表面見帶狀凹陷,探針可深入。
該病病因可能是()
A.細(xì)菌產(chǎn)酸
B.牙胚發(fā)育時氟濃度過高
C.四環(huán)素類藥物結(jié)合牙本質(zhì)
D.嚴(yán)重營養(yǎng)障礙
E.外傷
最新試題
該義齒設(shè)計時基牙應(yīng)選()
與該患牙主要應(yīng)作鑒別診斷的牙病是()
患兒最可能的診斷是()
尖牙遠中移動可采用()
若確診為急性壞死性齦炎最有價值的輔助檢查是()
微波聚合法是采用電子學(xué)加熱的方法使塑料產(chǎn)生高速聚合,其原理是()
塑料熱處理過程中加熱過快可導(dǎo)致()
卡環(huán)臂進入基牙倒凹的長度為卡環(huán)臂全長的()
上頜前牙舌側(cè)內(nèi)收,關(guān)閉間隙時,采用下列哪項措施()
為孤立基牙,應(yīng)該采用何種卡環(huán)()