填空題用標(biāo)樣檢查是檢測(cè)()誤差的有效方法。
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X射線熒光光譜分析中,分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
ICP光譜儀中石英炬管清洗時(shí)用的酸是()。
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電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀包括()。
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ICP-AES法測(cè)量分析試樣時(shí),所選擇的光譜分析線是()。
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使用CS600測(cè)定純鐵中超低碳硫含量,控制分析空白是關(guān)鍵。
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LZ50中氧氮含量的測(cè)定,分析儀器需要配備外循環(huán)冷卻水器或自來(lái)水源。
題型:判斷題
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池,高量程的池體短,相應(yīng)紅外光程短。
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ICP光譜干擾包括()。
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氧氮分析儀同碳硫分析儀一樣,都是采用加熱方式來(lái)分解試樣,所以也使用氧氣作載氣。
題型:判斷題
玻璃熔融-X熒光光譜法,采用的熔融法存在缺點(diǎn)是()。
題型:多項(xiàng)選擇題