ICP-AES法中檢出限高低取決于（）。

ICP光譜干擾包括（）。

X射線熒光光譜分析中，分光晶體對溫度的變化比較敏感，一般要求晶體室溫度變化在（）度內(nèi)。

直讀光譜分析鐵水試樣時，鐵水試樣必須白口化。

氧氮分析儀測氮時，是通過紅外池檢測試樣熔融后釋放出的氮氣量來檢測的。

ICP中等離子體環(huán)狀結構形成的原因是（）。

鋼鐵中氫含量采用脈沖加熱熔融熱導法測定時，根據(jù)熱導池輸出電流值與氫的濃度關系，從校準曲線上得到氫含量。

X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是（）。

ICP-AES法測量分析試樣時，所選擇的光譜分析線是（）。

玻璃熔融-X熒光光譜法，采用的熔融法存在缺點是（）。