A、樣品的粒度
B、不均勻性
C、表面結(jié)構(gòu)
D、化學(xué)價態(tài)
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A、LiF（200）、LiF（220）、Ge（111）、PE（002）、PX1
B、LiF（200）、LiF（220）、Ge（111）、PE（002）、PX2
C、LiF（200）、LiF（420）、Ge（111）、PE（002）、PX1
D、InSb、LiF（220）、Ge（111）、PE（002）、PX1
A、3
B、4
C、5
D、6
A、保護(hù)氣
B、猝滅氣體
C、探測氣體。
A、N2
B、CO2
C、Ar
D、CH3
A、封閉式正比計(jì)數(shù)器
B、流氣式正比計(jì)數(shù)器
C、閃爍計(jì)數(shù)器
D、半導(dǎo)體計(jì)數(shù)器
最新試題
原子熒光光譜法制作工作曲線時，相關(guān)系數(shù)應(yīng)至少達(dá)到（）。
選用ICP-AES儀器，同時可以進(jìn)行（）。
鋼鐵中氫含量采用脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測定時，根據(jù)熱導(dǎo)池輸出電流值與氫的濃度關(guān)系，從校準(zhǔn)曲線上得到氫含量。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測定過程中，陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用，無需任何預(yù)處理。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測定鋼鐵中氫含量，分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器，所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。
X射線熒光光譜分析中，分光晶體對溫度的變化比較敏感，一般要求晶體室溫度變化在（）度內(nèi)。
ICP-AES法中檢出限高低取決于（）。
玻璃熔融-X熒光光譜法，采用的熔融法存在缺點(diǎn)是（）。
ICP-AES光源分為四個區(qū)域，即（）。
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是（）。