在射線照相時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在（）

射線照像底片上產(chǎn)生黑色樹(shù)枝狀花紋的原因是（）

散射比的大小與（）因素有關(guān)。

焊縫斜探頭探傷時(shí)儀器示波屏?xí)r間軸按1：1調(diào)整后，其始波前沿（）

關(guān)于聲壓往復(fù)透射率，以下敘述正確的是（）

表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是（）

脈沖反射法A型顯示取得缺陷信息是根據(jù)（）

直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面（）

與直探頭相比，雙晶探頭（）

采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí)，焦距為1m，曝光時(shí)間為6min，其余條件均不變，曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為（）