在射線照相時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在（）

小口徑管道射線探傷時(shí)常采用（）方法透照。

在探傷靈敏度確定后，缺陷的當(dāng)量大?。ǎ?/p>

顯示試件某一縱斷面的聲象的顯示方式為（）

在近場(chǎng)以外的部分，即聲程大于3N的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)聲壓與距離的關(guān)系為（）

脈沖反射法A型顯示取得缺陷信息是根據(jù)（）

下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度的是（）

化學(xué)清洗用于去除工件表面的（）

直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面（）

關(guān)于圓晶片輻射的超聲波，下列說法正確的是（）（S為傳播距離，N為近場(chǎng)長(zhǎng)度）。