A.充電電流
B.電解電流
C.殘余電流
D.遷移電流
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A.與汞柱高度h的平方根成正比
B.與汞柱壓力p的平方成正比
C.與汞柱壓力p的平方成反比
D.與擴(kuò)散系數(shù)D的平方成正比
A.極限擴(kuò)散電流是個常數(shù)
B.極限擴(kuò)散電流與被測物質(zhì)的濃度成正比
C.擴(kuò)散電流與被測物質(zhì)的濃度成正比
D.峰電位φp(V)是與被測物質(zhì)的半波電位有關(guān)的常數(shù)
A.任一物質(zhì)的極譜波的半波電位是個常數(shù)
B.只有可逆極譜波的半波電位是個常數(shù)
C.只有不可逆極譜波的半波電位是個常數(shù)
D.任一物質(zhì)的極譜波的極限擴(kuò)散電流是個常數(shù)
A.電極反應(yīng)適用能斯特公式
B.擴(kuò)散速度比電極反應(yīng)速度小
C.電極反應(yīng)不表現(xiàn)出明顯的過電位
D.表現(xiàn)出明顯的過電位,存在著電化學(xué)極化,不能間單應(yīng)用能斯特公式
A.電極反應(yīng)適用能斯特公式
B.擴(kuò)散速度比電極反應(yīng)速度大
C.電極反應(yīng)表現(xiàn)出明顯的過電位
D.有電化學(xué)極化
最新試題
X射線熒光光譜分析中,分光晶體對溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測定鋼鐵中氫含量,分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器,所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。
紅外吸收法分析碳和硫時,可以用同一個紅外池來檢測。
玻璃熔融-X熒光光譜法,目前大量應(yīng)用于鐵合金中主次元素的測定,含量范圍廣,其具有的特點(diǎn)是()。
氧氮分析儀測氮時,是通過紅外池檢測試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼頇z測的。
ICP-AES光源分為四個區(qū)域,即()。
ICP光譜干擾包括()。
直讀光譜分析鐵水試樣時,鐵水試樣必須白口化。
ICP光譜儀中的等離子炬管有三種氣體通過,它們分別是()。
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池,高量程的池體短,相應(yīng)紅外光程短。