采用以（）為橫坐標，以平底孔直徑標注各當(dāng)量曲線作成實用AVG曲線。

各類渦流檢測儀器的工作原理和（）是相同的。

對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）

特性是指實體所特有的性質(zhì)，它反映子實體滿足需要的（）

渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生（）

對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。

在遠場區(qū)，當(dāng)缺陷比聲束截面小時，缺陷波高與缺陷面積成（）

用于測量黑光強度的現(xiàn)代黑光輻射照度計，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測量黑光。

掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。