A、探測(cè)深度大
B、檢測(cè)速度快
C、費(fèi)用低
D、以上都對(duì)
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A、24°
B、27°
C、37°
D、48°
A、減小
B、增大
C、不變
D、既可增大又可減小
A、氣體
B、液體
C、固體
D、以上都不對(duì)
A、波幅增益量
B、缺陷當(dāng)量尺寸
C、距離
D、以上都不對(duì)
A、遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)
B、近場(chǎng)區(qū)
C、過渡區(qū)
D、陰影區(qū)
最新試題
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測(cè)量方法。
鑄件超聲檢測(cè)的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應(yīng)的可檢缺陷尺寸()
渦流檢測(cè)儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的()
缺陷檢測(cè)即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
用于測(cè)量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì),其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測(cè)量黑光。
各類渦流檢測(cè)儀器的()和結(jié)構(gòu)各不相同。
對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
渦流檢測(cè)中的對(duì)比試樣的()和材質(zhì)相對(duì)被檢測(cè)產(chǎn)品必須具有代表性。
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí),如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的()